2019年度第一期“集成電路測試技術(shù)與產(chǎn)品應(yīng)用開發(fā)研討會”于5月27日至5月31日在北京華峰測控技術(shù)股份有限公司北京總部召開。

會上，來自全國各器件生產(chǎn)廠家、元器件檢測篩選中心的一線技術(shù)人員，共同就當今半導體行業(yè)測試技術(shù)的熱點話題展開討論與分享。北京華峰測控技術(shù)股份有限公司ATE市場部經(jīng)理劉惠鵬，根據(jù)近年來在大功率器件交直流一體化測試上積累的經(jīng)驗，以常見的MOSFET為例，詳細講述了設(shè)備是如何一次實現(xiàn)直流、時間、UIS、Rg、Ciss、Coss、Crss全參數(shù)測試的。同時分享了大功率IPM器件的解決方案和華峰公司在未來新材料半導體測試領(lǐng)域的預(yù)研成果。

作為研討會的第一個主題，劉惠鵬所講演的“功率器件動態(tài)參數(shù)測試技術(shù)”這一題目，引起了全部參會人員的極大興趣，會后提問交流環(huán)節(jié)長達30分鐘，有些問題甚至深入到了華峰的專利技術(shù)，可謂擦出了不少“火花”，精彩連連！

集成電路的測試和篩選，安全性格外的重要。如何安全的使用測試設(shè)備，如何安全的對器件的電參數(shù)進行檢測，甚至在檢測失效時如何合理的進行問題分析和定位。本次研討會針對這些問題，由華峰測控有著多年測試實戰(zhàn)經(jīng)驗的技術(shù)支持工程師周昊鵬、于松濤，以自己最擅長的領(lǐng)域分別講述了“如何安全有效的測試大功率電源管理類器件”和“如何安全有效的測試CMOS4000電路”兩個話題。

隨著國內(nèi)半導體行業(yè)的飛速發(fā)展，測試對象的復(fù)雜程度與日俱增，同時也對測試設(shè)備提出了更高的要求。本次研討會上，華峰測控針對STS6100大規(guī)模數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)上的高級編程語言進行了講解，有了這種底層高級開發(fā)語言，可以更方便的讓測試工程師根據(jù)器件參數(shù)的具體要求實現(xiàn)測試，在測試設(shè)備便捷性的基礎(chǔ)上增加靈活性，擺脫固有測試參數(shù)的局限。

STS8207S作為全新的模擬器件測試機，在運算放大器的測試上繼續(xù)著華峰精益求精、追求極致的特點。面對更多高精度的運算放大器、儀表放大器以及差分放大器等器件，華峰測控的工程師在研討會上分享了近幾年的工作成果，從了解器件特點和參數(shù)入手，針對不同測試對象的特點選擇合理的測試方案，再根據(jù)現(xiàn)有測試設(shè)備、儀器儀表的能力實現(xiàn)測試方案。

每當有真實測試樣例的分享，參會人員都聽的格外認真專注。

本次研討會的順利召開離不開廣大用戶的鼎力支持，我們將一如既往的分享最新研發(fā)成果，讓我們相約金秋再見！