PAT(Part Average Testing)表示零件平均測試,是一種應(yīng)用于ATE中提高元器件品質(zhì)和可靠性的方法,根據(jù)工藝生產(chǎn)能力的不同而在測試項中加入更嚴(yán)格的測試范圍。
PAT功能可分為靜態(tài)與動態(tài)兩類。靜態(tài)PAT通常應(yīng)用于CP及WLCSP量產(chǎn)環(huán)節(jié),一整片或一個批次晶圓完成測試后對數(shù)據(jù)統(tǒng)計并實施PAT;而DPAT,亦稱動態(tài)DPAT,通常應(yīng)用于FT量產(chǎn)環(huán)節(jié),實時對數(shù)據(jù)實施PAT。
您可從本文了解到:
1. DPAT設(shè)定界面
2. 案例分析